一、产品概述：

该设备适用于学校，工厂，军工，科研单位，实验室、高校等单位，来检测各种电子元气件在高温，低温或高低温交替环境下的各项性能指标、贮存和使用的适应性。

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二、技术参数：

s36沙龙会快速温变试验箱 性能测试箱半导体

三、箱体结构：

l  箱体造型美观大方，采用数控机床加工成型，并采用无反作用把手，操作简便。

l  箱体内胆采用高级不锈钢（SUS304）镜面板，箱体采用冷轧钢板静电喷塑，增加了外观质感和洁净度。

l  大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配有测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。(孔径或孔数须增加定货时说明)。机器底部采用高品质可固定式PU活动轮。

四、控制系统：

l  7寸可程式彩色触摸控制器。

l  采用大屏触摸屏模式荧幕画面、荧幕操作简单、程式编辑容易。

l  控器操作界面设中英文可供选择、即使运转曲线图可由屏幕显示。

l  具有100组程式1000段999循环步骤的容量、每段时间设定值为99小时59分钟。

l  资料及试验条件输入后、控制器具有荧屏锁定功能、避免人为触摸而停机。

l  具有PID自动演算功能、可将温度变化条件立即修正、使温度控制更为精确稳定。

l  具有RS-232或RS-485通讯界面、可在电脑上设计程式、监控试验过程并执行开关机功能。

l  可连接打印机或485通讯接口、用电脑显示、并打印温度和时间曲线、为试验过程数据储存于回放提供有力保证。

五、制冷系统：

l  制冷机采用法国原装“泰康"全封闭压缩机。

l  冷冻系统采用单机低温回路系统设计。

l  采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温湿度分布均匀。

l  风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。

l  升温、降温独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。

六、符合标准：

l  GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验 A：低温试验方法。

l  GB-2423.2-89（IEC68-2-2）试验 B：高温试验方法。

l  GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

l  GB/T 2423.2-2008 试验 B《高温试验方法》

l  GB10586-89 低温试验箱技术条件

l  GB/T10592-89 高低温试验箱技术条件

l  GB10592-89 高低温试验箱技术条件

l  GB11158 高温试验箱技术条件

l  GB2423.1-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A：低温试验方法

l  GB2423.2-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A：高温试验方法

l  IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法

l  IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法

s36沙龙会快速温变试验箱 性能测试箱半导体